РОСНАНО примет участие во Всероссийском симпозиуме метрологов и выставке «Метрология-2009»

 

РОСНАНО примет участие во Всероссийском симпозиуме метрологов и 5-ой Специализированной выставке-конкурсе средств измерений, испытательного и лабораторного оборудования «Метрология-2009». Мероприятия, приуроченные к Международному Дню метрологии, пройдут во Всероссийском Выставочном Центре 19-21 мая.

Корпорация будет представлена на выставке собственной экспозицией, на которой будет размещена информация о деятельности Корпорации, содержании и формах работы по обеспечению единства измерений, стандартизации и сертификации. В экспозиции Корпорации будут представлены образцы приборов и устройств для измерений в нанометровом диапазоне, а также перспективные средства измерений и измерительное оборудование, созданные с применением нанотехнологий. На пленарном заседании Всероссийского симпозиума метрологов запланирован доклад на тему: «Система стандартизации, сертификации и метрологического обеспечения в РОСНАНО».

Корпорация рассматривает развитие измерений как одну из приоритетных задач для производства и контроля параметров современной конкурентоспособной продукции в сфере наноиндустрии. Для решения этой задачи предпринимаются конкретные шаги, одним из которых стала регистрация системы добровольной сертификации «Наносертифика» 28 мая 2008 г.